Электронный каталог

rus
НТБ Минпромторга России
Режим работы
Контактная информация

Поиск :

  • Поиск
  • Поиск одной строкой
  • Помощь

  • Разделы фонда

  • Книги по ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
  • Книги 2022
  • Книги 2023
  • Книги 2024
  • Ретрофонд
  • Статьи из информационных обзоров за 2023
  • Статьи из информационных обзоров за 2024

  • Справочники

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Дерево рубрик

  • Статистика поисков
  • Статистика справок

Личный кабинет :


Самозапись

Электронный каталог: Книги в рубрике:

Рубрики
--> МИКРОСКОПИЯ

Рубрика

Название:
 
МИКРОСКОПИЯ  

Печать списка

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Гибкие решения проблем импортозамещения ЭКБ для специальной техники
Нет экз.
Статья
Эннс, В.В.
Гибкие решения проблем импортозамещения ЭКБ для специальной техники
2018 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Корпусирование МЭМС: проблемы и решения
Нет экз.
Статья
Бойко, А.
Корпусирование МЭМС: проблемы и решения
2022 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Лаборатория анализа качества электронной аппаратуры
Нет экз.
Статья
Медведев, А.
Лаборатория анализа качества электронной аппаратуры
2018 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Микрофотография
Доступно
 1 из 1
Книга
Шиллабер, Ч.
Микрофотография
Изд-во иностранной лит., 1951 г.
ISBN отсутствует


Заказать Заказать

На полку На полку

Некоторые вопросы инновационного развития российской экономики
Нет экз.
Статья
Каширин, В.
Некоторые вопросы инновационного развития российской экономики
2018 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Принципы применения Рамановской микроскопии. Лекция доктора Сатоши Кавата
Нет экз.
Статья
Кавата, С.
Принципы применения Рамановской микроскопии. Лекция доктора Сатоши Кавата
2019 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Принципы работы и оборудование сверхкритических процессов для получения нано- и микрочастиц, воло...
Нет экз.
Статья

Принципы работы и оборудование сверхкритических процессов для получения нано- и микрочастиц, воло...
2024 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Характеристики кремниевых кантилеверов для атомно-силовой микроскопии компании АО "Ангстрем"
Нет экз.
Статья
Новак, А.
Характеристики кремниевых кантилеверов для атомно-силовой микроскопии компании АО "Ангстрем"
2023 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

Электронные и ионные микроскопы класса "хай-энд"
Нет экз.
Статья
Вессер, Э.-Я.
Электронные и ионные микроскопы класса "хай-энд"
2015 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ЗАО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20