Электронный каталог

rus
НТБ Минпромторга России
Режим работы
Контактная информация

Поиск :

  • Поиск
  • Поиск одной строкой
  • Помощь

  • Разделы фонда

  • Книги по ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
  • Книги 2022
  • Книги 2023
  • Книги 2024
  • Ретрофонд
  • Статьи из информационных обзоров за 2023
  • Статьи из информационных обзоров за 2024

  • Справочники

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Дерево рубрик

  • Статистика поисков
  • Статистика справок

Личный кабинет :


Самозапись

Электронный каталог: Контроль и измерения

Контроль и измерения

Нет экз.
Контроль и измерения
Статья
Автор:
Наноиндустрия: Контроль и измерения : тематический подбор материалов
2012 г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Контроль и измерения: тематический подбор материалов // Наноиндустрия. – 2012. – №4. – С.38-48. - 125407. – На рус. яз.

Корреляционный анализ в сканирующей зондовой микроскопии: технологические особенности программы ФемтоСканОнлайн "Найти структурный элемент", позволяющий построить усредненное изображение структурного элемента и улучшить качество исходного изображения. Цифровая микроскопия в онлайне: описание применение веб-сервиса SIAMS Apps для перехода анализа изображений микроструктуры от традиционных программно-аппаратных комплексов к веб-сервисам, способствующим повышению эффективности работы специалистов и использования исследовательского оборудования. "НАНОМЕТР НДГ-70" - голографический высокоразрешающий длинномер: технические характеристики и технология работы с прибором "НАНОМЕТР НДГ-70" с разрешением в 1 нм, для измерения объектов длиной до 70 мм, относящегося к высокоточным измерительным системам линейных перемещений.


Ключевые слова = ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА
Ключевые слова = ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
Ключевые слова = КОРРЕЛЯЦИЯ
Ключевые слова = ИЗМЕРЕНИЕ
Ключевые слова = ЭЛЕМЕНТ
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Ключевые слова = НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКАЯ ПОЛИТИКА. ИННОВАЦИОННАЯ ДЕЯТЕЛЬНОСТЬ
Ключевые слова = АНАЛИЗ
Ключевые слова = РОССИЯ
Ключевые слова = ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = ИССЛЕДОВАНИЯ
Ключевые слова = ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Ключевые слова = ОБОРУДОВАНИЕ
Ключевые слова = СИСТЕМА КОНТРОЛЯ
Ключевые слова = ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ РАЗВИТИЕ
Ключевые слова = МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Ключевые слова = ПРОГРАММНО-АППАРАТНЫЙ КОМПЛЕКС
Ключевые слова = СКАНЕР


Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Наноиндустрия
Нет экз.
Выпуск

Наноиндустрия №4
2012 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ЗАО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20