Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Хайз, М. - Новые подходы к тестированию и отладке современных устройств
Хайз, М. - Новые подходы к тестированию и отладке современных устройств
Нет экз.
Статья
Автор: Хайз, М.
Компоненты и технологии: Новые подходы к тестированию и отладке современных устройств
2011 г.
ISBN отсутствует
Автор: Хайз, М.
Компоненты и технологии: Новые подходы к тестированию и отладке современных устройств
2011 г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Хайз, М.
Новые подходы к тестированию и отладке современных устройств / Хайз М. // Компоненты и технологии. – 2011. – №4. – С.159-162. - 110774. – На рус. яз.
Архитектура и преимущества новых осциллографов, созданных за счёт инновационных технологий, позволивших объединить функциональные возможности четырёх приборов в одном осциллографе общего назначения.
Ключевые слова = ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА
Ключевые слова = ИННОВАЦИОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
Ключевые слова = ТЕСТ
Ключевые слова = ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА
Ключевые слова = ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
Хайз, М.
Новые подходы к тестированию и отладке современных устройств / Хайз М. // Компоненты и технологии. – 2011. – №4. – С.159-162. - 110774. – На рус. яз.
Архитектура и преимущества новых осциллографов, созданных за счёт инновационных технологий, позволивших объединить функциональные возможности четырёх приборов в одном осциллографе общего назначения.
Ключевые слова = ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ ТЕХНИКА
Ключевые слова = ИННОВАЦИОННАЯ ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = ПРИБОРОСТРОЕНИЕ
Ключевые слова = ТЕСТ
Ключевые слова = ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКАЯ ОЦЕНКА
Ключевые слова = ТЕХНОЛОГИЯ
Ключевые слова = ТЕХНИКА. ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ОТРАСЛЯХ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
