Электронный каталог

rus
НТБ Минпромторга России
Режим работы
Контактная информация

Поиск :

  • Поиск
  • Поиск одной строкой
  • Помощь

  • Разделы фонда

  • Книги по ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
  • Книги 2022
  • Книги 2023
  • Книги 2024
  • Ретрофонд
  • Статьи из информационных обзоров за 2023
  • Статьи из информационных обзоров за 2024

  • Справочники

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Дерево рубрик

  • Статистика поисков
  • Статистика справок

Личный кабинет :


Самозапись

Электронный каталог: Минаев, А.А. - Мониторинг совокупностей патентных документов по нанотехнологиям

Минаев, А.А. - Мониторинг совокупностей патентных документов по нанотехнологиям

Нет экз.
Мониторинг совокупностей патентных документов по нанотехнологиям
Статья
Автор:
Минаев, А.А.
Патенты и лицензии: Мониторинг совокупностей патентных документов по нанотехнологиям
2009 г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Минаев, А.А.
Мониторинг совокупностей патентных документов по нанотехнологиям / Минаев А.А. // Патенты и лицензии. – 2009. – 2009 №12. – С.47-51. - 94020. – На рус. яз.

Анализ совокупности изобретений - ключ к пониманию будущих условий жизни общества и проблем, стоящих перед ним, так как из четырех материальных факторов, определяющих благосостояние государства: изобретения, население, естественные ресурсы и организация экономики, изобретения наиболее склонны к изменениям и часто являются причиной изменения других факторов. Структурный анализ изобретений в области нанотехнологий. Распределение (по данным на январь 2009 г.) патентных документов в мировой базе данных в соответствии с Международной патентной классификацией нанотехнологий по ведущим индустриально развитым странам. Анализ совокупностей патентных документов Российской Федерации по нанотехнологиям.


Ключевые слова = ЗАРУБЕЖНЫЕ СТРАНЫ
Ключевые слова = ЗАРУБЕЖНЫЙ ОПЫТ
Ключевые слова = ИЗОБРЕТЕНИЕ
Ключевые слова = ПАТЕНТ
Ключевые слова = НАНОТЕХНОЛОГИИ
Ключевые слова = ЭКОНОМИКА БЛАГОСОСТОЯНИЯ
Ключевые слова = ПРАВОВЫЕ ОСНОВЫ ГОСУДАРСТВЕННОГО РЕГУЛИРОВАНИЯ. ЮРИДИЧЕСКИЕ ИНСТИТУТЫ
Ключевые слова = АНАЛИЗ
Ключевые слова = РОССИЯ
Ключевые слова = КИТАЙ
Ключевые слова = РАЗВИТЫЕ СТРАНЫ
Ключевые слова = МОДЕЛЬ
Ключевые слова = МОНИТОРИНГ
Ключевые слова = КЛАССИФИКАЦИЯ
Ключевые слова = США
Ключевые слова = ЯПОНИЯ
Ключевые слова = МЕЖДУНАРОДНЫЙ СТАНДАРТ
Ключевые слова = ПАТЕНТНАЯ СИСТЕМА


Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Патенты и лицензии
Нет экз.
Выпуск

Патенты и лицензии 2009 №12
2009 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ЗАО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20